- 晶圓針測 Wafer Sorting
- 為因應IC產品不斷創新及功能增強，以往的測試機功能已不敷使用，因此創量科技特別引進TERADYNE、Credence及Chroma等機台來服務客戶。滿足客戶從測試程式開發、相關配件設計、驗證及生產導入等流程建立，服務低階至高階產品的晶圓測試需求。
- 成品測試 Final Test
- 提供可測試各類型的IC封裝型態。
- 在分類機上使用業界公認最好的機台，在速度快故障低的穩定生產下，提供最好的品質。
服務項目
服務項目
服務項目